能量色散X熒光光譜儀XD-1000全自動膜厚儀上照式光譜測厚儀是一款專用于檢測各種異形件，各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個 檢測大量的小部件

特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

1）搭載微聚焦X射線發(fā)生器和優(yōu)良的光路轉換聚焦系統(tǒng)擁有無損變焦檢測技術，最小測量面積可達0.01mm2

2）手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-70mm

3）核心EFP算法，可對多層多元素快、準、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析，配備全自動可編程移動平臺，可實現(xiàn)無人值守，多點位、多樣品的精準位移和同時檢測

4）可同時分析23個鍍層、24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層檢出限：0.005μm

5）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

6）標配φ0.2mm準直器

7）配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度小于10%

應用領域

儀器參數(shù)